A method and apparatus for generating multiple ultra-fast (picosecond-range) electrical sampling apertures and pulses in response to a slewed control signal is disclosed. In one embodiment a series or sequence of sampling apertures are formed for sampling an input signal without the use of delay lines. In another embodiment, the input to be sampled is incrementally delayed to generate signals along a delay line. The delayed signals are simultaneously sampled in a sampling window to obtain a group of samples of an input signal at the same time. In another embodiment, a series or sequence of ultra-fast pulses are formed in an output signal without using delay lines. Parallel and serial sampler/pulser circuitry are disclosed.

Een methode en een apparaat om veelvoudige ultrasnelle (picoseconde-waaier) elektro worden bemonsteringsopeningen en impulsen in antwoord op een gezwenkt controlesignaal te produceren onthuld. In één belichaming wordt een reeks of een opeenvolging van bemonsteringsopeningen gevormd voor het bemonsteren van een inputsignaal zonder het gebruik van vertragingslijnen. In een andere belichaming, wordt de te bemonsteren input oplopend vertraagd om signalen volgens een vertragingslijn te produceren. De vertraagde signalen worden gelijktijdig bemonsterd in een bemonsteringsvenster om een groep steekproeven van een inputsignaal tezelfdertijd te verkrijgen. In een andere belichaming, wordt een reeks of een opeenvolging van ultrasnelle impulsen gevormd in een outputsignaal zonder vertragingslijnen te gebruiken. De parallelle en periodieke monstertrekker/pulser schakelschema wordt onthuld.