The test needle has, for contacting a circuit board test point, a contact portion configured conically tapered to a free contact tip. The contact portion has a length of at least 15 mm and at the contact tip a diameter smaller than 0.2 mm. An end section of the contact portion apposite the contact tip comprises a diameter at least 0.1 mm larger than the contact tip. With the test needle in accordance with the invention, extremely dense structures on circuit boards can be strobed. The test needle in accordance with the invention is stiffer than known test needles for strobing comparable structures. This simplifies their handling and the configuration of a pattern adapter incorporating these test needles.

A agulha do teste tem, contatando um ponto de teste da placa de circuito, uma parcela do contato configurarada afilada cònicamente a uma ponta livre do contato. A parcela do contato tem um comprimento ao menos de 15 milímetros e na ponta do contato um diâmetro menor de 0.2 milímetro. Uma seção da extremidade da parcela do contato apposite a ponta do contato compreende um diâmetro ao menos 0.1 milímetro maior do que a ponta do contato. Com a agulha do teste de acordo com a invenção, as estruturas extremamente densas em placas de circuito podem ser strobed. A agulha do teste de acordo com a invenção é mais dura do que agulhas sabidas do teste para estruturas comparáveis do efeito estroboscópico. Isto simplifica sua manipulação e a configuração de um adaptador do teste padrão que incorpora estes agulhas do teste.