A system and method for determining the location of a particular device on an integrated circuit chip is described. The system and method utilize apparatus for detecting the emission of light during switching events of devices in the circuit during the circuit's processing of an input calculated to actuate the device whose location is desired. Light emissions from the circuit can be temporally and spatially indexed so as to allow deduction, in combination with the a priori knowledge of the logical operation of the circuit, of the location of the desired element. In another embodiment of the invention, a series of images of the circuit can be accumulated, representing the circuit's response to a series of different input signals, each input signal being designed to result in the switching of the desired element. The series of images can be compared to determine the location of the desired element. Also in accordance with the invention, the elements to be located can be either actual functional circuit elements, or fiducials added to the chip for test purposes.

Un sistema e un metodo per la determinazione della posizione di un dispositivo particolare su un circuito integrato del circuito integrato è descritto. Il sistema ed il metodo utilizzano l'apparecchio per la rilevazione dell'emissione di luce durante gli eventi di commutazione dei dispositivi nel circuito durante l'elaborazione del circuito di un input calcolato per attuare il dispositivo di cui la posizione è voluta. Le emissioni chiare dal circuito possono temporaneamente e nello spazio spostare ad incrementi in modo da permettere la deduzione, congiuntamente alla conoscenza a priori del funzionamento logico del circuito, della posizione dell'elemento voluto. In un altro metodo di realizzazione dell'invenzione, una serie di immagini del circuito può essere accumulata, rappresentando la risposta del circuito ad una serie di segnali in ingresso differenti, ogni segnale in ingresso che è destinato a provocare la commutazione dell'elemento voluto. La serie di immagini può essere confrontata per determinare la posizione dell'elemento voluto. Inoltre secondo l'invenzione, gli elementi da individuare possono essere elementi del circuito funzionali reali, o fiducials aggiunti al circuito integrato per gli scopi della prova.