A method for inserting and reading probe points in a silicon embedded testbench comprising the steps of (a) reading a simulation list of probe points, (b) enabling access to the list of probe points, (c) generating a core, and (d) displaying or comparing the probe points.

Eine Methode für das Einsetzen und das Ablesen der Prüfspitze zeigt in ein Silikon eingebettetes testbench, das die Schritte von (a) einer Simulation Liste der Prüfspitze Punkte lesend enthält, (b), Zugang zur Liste der Prüfspitze ermöglichend, zeigt, (c), einen Kern erzeugend, und (d), die Prüfspitze Punkte anzeigend oder vergleichend.