A method and circuit for preventing external access to secure data of an integrated circuit while supporting DFT is disclosed. In accordance with the method the integrated circuit is automatically placed into the test mode at integrated circuit power-up from a power-down state. At power up, secure data is other than present within a secure data-path of the integrated circuit. Access is provided to the secure data path via a second data path coupled with the first secure data-path. Via the access path, data other than secure data is provided to the integrated circuit, the data for performing test functions of the integrated circuit operating in the test mode. Once data other than secure data is provided to first secure data path, the test mode is terminated and access via other than the secure ports is disabled. The test mode is only re-entered by powering down the integrated circuit and re-initialising it.

Μια μέθοδος και ένα κύκλωμα για την παρεμπόδιση της εξωτερικής πρόσβασης στα ασφαλή στοιχεία ενός ολοκληρωμένου κυκλώματος ενώ η υποστήριξη DFT αποκαλύπτεται. Σύμφωνα με τη μέθοδο το ολοκληρωμένο κύκλωμα τοποθετείται αυτόματα στον τρόπο δοκιμής στο ολοκληρωμένο κύκλωμα δύναμη-επάνω από ένα δύναμη-κάτω κράτος. Στη δύναμη επάνω, το ασφαλές στοιχείο είναι εκτός από το παρόν μέσα σε μια ασφαλή στοιχείο-πορεία του ολοκληρωμένου κυκλώματος. Η πρόσβαση παρέχεται στην ασφαλή πορεία στοιχείων μέσω μιας δεύτερης πορείας στοιχείων που συνδέεται με την πρώτη ασφαλή στοιχείο-πορεία. Μέσω της πορείας πρόσβασης, το στοιχείο εκτός από τα ασφαλή στοιχεία παρέχεται στο ολοκληρωμένο κύκλωμα, τα στοιχεία για την εκτέλεση των λειτουργιών δοκιμής του ολοκληρωμένου κυκλώματος που λειτουργεί στον τρόπο δοκιμής. Μόλις παρασχεθεί το στοιχείο εκτός από τα ασφαλή στοιχεία στην πρώτα ασφαλή πορεία στοιχείων, ο τρόπος δοκιμής ολοκληρώνεται και η πρόσβαση μέσω εκτός από τους ασφαλείς λιμένες είναι εκτός λειτουργίας. Ο τρόπος δοκιμής καταγράφεται μόνο με την τροφοδότηση κάτω από το ολοκληρωμένο κύκλωμα και την επαν-μονογραφή του.