The invention concerns a method for the photometric analysis of test
elements with a detection zone which is stable towards positioning
tolerances of the detection zone comprising the following steps:
activating the first light source to irradiate a first region of the
detection zone and detecting the light reflected from the detection zone
or transmitted through the detection zone in order to generate a first
detection signal (50), activating the second light source to irradiate a
second region of the detection zone which is displaced relative to the
first region in the direction of the positioning tolerance and detecting
the light reflected from the detection zone or transmitted through the
detection zone in order to generate a second detection signal (60),
comparing the first and the second detection signal and determining
whether the first and/or the second detection signal has been obtained by
illuminating an area situated completely on the detection zone. The
invention also concerns a device to carry out this method and a method for
the photometric analysis of a test element with detection of sample
application.
Вымысел относится метод для фотометрического анализа элементов испытания с зоной обнаружения стабилизировано к располагать допуски зоны обнаружения состоя из following шагов: активирующ первый источник света для того чтобы облучить первую зону зоны обнаружения и обнаруживающ свет отраженный от зоны обнаружения или переданный через зону обнаружения для того чтобы произвести первый сигнал обнаружения (50), активируя второй источник света для того чтобы облучить вторую зону зоны обнаружения которая смещена по отношению к первой зоне в направлении располагая допуска и обнаруживать свет отраженный от зоны обнаружения или переданный через зону обнаружения для того чтобы произвести второй сигнал обнаружения (60), сравнивая первое и второй сигнала обнаружения и обусловливая был получен ли первый and/or второй сигнал обнаружения путем загораться область расположенная вполне на зону обнаружения. Вымысел также относится приспособление для того чтобы унести этот метод и метод для фотометрического анализа элемента испытания с обнаружением образеца программы.
