Cyclical deposition of a variable content titanium silicon nitride layer

   
   

Embodiments of the invention relate to an apparatus and method of depositing a titanium silicon nitride layer by cyclical deposition. In one aspect, a titanium silicon nitride layer having a variable content or a controlled composition of titanium, silicon, and nitrogen through the depth of the layer may be formed. One embodiment of this variable content titanium silicon nitride layer or tuned titanium silicon nitride layer includes a bottom sub-layer of TiSi.sub.X1 N.sub.Y1, a middle sub-layer of TiSi.sub.X2 N.sub.Y2, and a top sub-layer of TiSi.sub.X3 N.sub.Y3 in which X1 is less than X2 and X3 is less than X2. Another embodiment of a variable content titanium silicon nitride layer includes a bottom sub-layer of TiSi.sub.X1 N.sub.Y1 and a top sub-layer of TiSi.sub.X2 N.sub.Y2 in which X2 is greater than X1. Still another embodiment of a variable content titanium silicon nitride layer includes a bottom sub-layer of TiSi.sub.X1 N.sub.Y1, a middle sub-layer of TiSi.sub.X2 N.sub.Y2, and a top sub-layer of TiSi.sub.X3 N.sub.Y3 in which X1 is greater than X2 and X3 is greater than X2.

Οι ενσωματώσεις της εφεύρεσης αφορούν συσκευές και μια μέθοδο ένα στρώμα νιτριδίων πυριτίου τιτανίου από την κυκλική απόθεση. Σε μια πτυχή, ένα στρώμα νιτριδίων πυριτίου τιτανίου που έχει ένα μεταβλητό περιεχόμενο ή μια ελεγχόμενη σύνθεση του τιτανίου, του πυριτίου, και του αζώτου μέσω του βάθους του στρώματος μπορεί να διαμορφωθεί. Μια ενσωμάτωση αυτού του μεταβλητού ικανοποιημένου στρώματος νιτριδίων πυριτίου τιτανίου ή του συντονισμένου στρώματος νιτριδίων πυριτίου τιτανίου περιλαμβάνει ένα κατώτατο υπόστρωμα TiSi.sub.X1 N.sub.Y1, ένα μέσο υπόστρωμα TiSi.sub.X2 N.sub.Y2, και ένα κορυφαίο υπόστρωμα TiSi.sub.X3 N.sub.Y3 στα οποία X1 είναι λιγότερο από X2 και X3 είναι λιγότερο από X2. Μια άλλη ενσωμάτωση ενός μεταβλητού ικανοποιημένου στρώματος νιτριδίων πυριτίου τιτανίου περιλαμβάνει ένα κατώτατο υπόστρωμα TiSi.sub.X1 N.sub.Y1 και ένα κορυφαίο υπόστρωμα TiSi.sub.X2 N.sub.Y2 στα οποία X2 είναι μεγαλύτερο από X1. Ακόμα μια άλλη ενσωμάτωση ενός μεταβλητού ικανοποιημένου στρώματος νιτριδίων πυριτίου τιτανίου περιλαμβάνει ένα κατώτατο υπόστρωμα TiSi.sub.X1 N.sub.Y1, ένα μέσο υπόστρωμα TiSi.sub.X2 N.sub.Y2, και ένα κορυφαίο υπόστρωμα TiSi.sub.X3 N.sub.Y3 στα οποία X1 είναι μεγαλύτερο από X2 και X3 είναι μεγαλύτερο από X2.

 
Web www.patentalert.com

< Semiconductor-on-insulator circuit with multiple work functions

< Methods for forming and integrated circuit structures containing ruthenium and tungsten containing layers

> Manufacturing seedless barrier layers in integrated circuits

> DRAM cells with repressed floating gate memory, low tunnel barrier interpoly insulators

~ 00108