An integrated circuit test structure comprises a potential divider and an
array of test circuits. Each test circuit comprises series-connected
chains of integrated circuit connections between test voltage lines. Each
test circuit also comprises a comparator in the form of a MOSFET having a
gate connected to the center point of the chains and a source connected to
the output of the potential divider. The drain of the transistor is
connected to an input for a bias voltage.
Uma estrutura do teste do circuito integrado compreende um divisor potencial e uma disposição de circuitos do teste. Cada circuito do teste compreende correntes series-connected de conexões do circuito integrado entre linhas da tensão do teste. Cada circuito do teste compreende também um comparador no formulário de um MOSFET que tem uma porta conectada ao ponto center das correntes e de uma fonte conectadas à saída do divisor potencial. O dreno do transistor é conectado a uma entrada para uma tensão diagonal.
