Storing data in-non-volatile memory devices

   
   

Cells in a non-volatile memory are programmed in parallel using a variable program bandwidth. The variable program bandwidth is an automatic variation in the number of cells pulsed in parallel based upon a predefined electrical current provisioning capability. The variation in programming number may be based upon whether a program pulse represents an initial pulse or a re-pulse. Additionally, or alternatively, the variation in programming number may be based upon a cell level to be programmed by a pulse in a MLC device.

Le cellule in una memoria non volatile sono programmate parallelamente usando una larghezza di banda variabile di programma. La larghezza di banda variabile di programma è una variazione automatica nel numero di cellule ha pulsato parallelamente basato su una possibilità corrente elettrica predefinita di provisioning. La variazione nel numero di programmazione può essere basata su se un impulso di programma rappresenta un impulso iniziale o un rifiuto. Ulteriormente, o alternativamente, la variazione nel numero di programmazione può essere basata su un livello delle cellule da programmare da un impulso in un dispositivo di MLC.

 
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< Methods of fabricating ferroelectric memory devices having a ferroelectric planarization layer

< Fabrication method and structure for ferroelectric nonvolatile memory field effect transistor

> Integrated circuit with vertical transistors

> Electrophotographic photoreceptor and management system of the same

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