Disclosed are methods for utilizing programmable logic devices that contain
at least one localized defect. Such devices are tested to determine their
suitability for implementing selected designs that may not require the
resources impacted by the defect. If the FPGA is found to be unsuitable
for one design, additional designs may be tested. The test methods in some
embodiments employ test circuits derived from a user's design to verify
PLD resources required for the design. The test circuits allow PLD vendors
to verify the suitability of a PLD for a given user's design without
requiring the PLD vendor to understand the user's design.
Показаны методы для использовать programmable приспособления логики содержат по крайней мере один локализованный дефект. Такие приспособления испытаны для того чтобы обусловить их пригодность для снабжать выбранные конструкции не могут требовать ресурсов плотно сжатых дефектом. Если найдены, что будет FPGA неподобающе для одной конструкции, то дополнительные конструкции могут быть испытаны. Испытанныйа метод в некоторых воплощениях используют цепи испытания выведенные от конструкции потребителя для проверки ресурсов PLD необходимы для конструкции. Цепи испытания позволяют поставщикам PLD проверить пригодность PLD для конструкции, котор дали потребителя без требовать, что поставщик PLD понял конструкцию потребителя.
