SOI MOSFET junction degradation using multiple buried amorphous layers

   
   

Various circuit devices incorporating junction-traversing dislocation regions and methods of making the same are provided. In one aspect, a method of processing is provided that includes forming an impurity region in a device region of a semiconductor-on-insulator substrate. The impurity region defines a junction. A dislocation region is formed in the device region that traverses the junction. The dislocation region provides a pathway to neutralize charge lingering in a floating body of a device.

Обеспечены различные приспособления цепи включая соединени-traversiruh5 зоны вывихивания и методы делать эти же. В одном аспекте, метод обрабатывать находится provided that вклюает формировать зону примеси в зону приспособления субстрата полупроводник-на-izol4tora. Зона примеси определяет соединение. Зона вывихивания сформирована в зоне приспособления траверсирует соединение. Зона вывихивания обеспечивает pathway для того чтобы нейтрализовать обязанность lingering в плавая теле приспособления.

 
Web www.patentalert.com

< SRAM cell and method for fabricating the same

< Light emitting diode

> High density flash memory architecture with columnar substrate coding

> Semiconductor device and method for manufacturing the same

~ 00167