A semiconductor integrated circuit including a debugging support unit and a
buffer memory for temporarily storing trace data, the debugging support
unit comprising a break detection member that detects a break signal
externally inputted and a break determining member that determines whether
the break signal requests to shift to break processing after outputting
all the trace data stored in the buffer memory or the break signal
requests to shift to the break processing with immediately suspending
trace data outputting.
Un circuito integrado del semiconductor incluyendo una unidad de ayuda el eliminar errores y una memoria del almacenador intermediario para temporalmente almacenar los datos del rastro, la unidad de ayuda el eliminar errores abarcando a un miembro de la detección de la rotura que detecta una señal de rotura externamente entrada y una rotura que determina al miembro que se determina si la señal de rotura solicita para cambiar de puesto para romper el proceso después de hacer salir todos los datos del rastro almacenados en la memoria del almacenador intermediario o las peticiones de la señal de rotura de cambiar de puesto a la rotura que procesa con inmediatamente suspender hacer salir de los datos del rastro.
