A method for classifying a substrate first provides the substrate and its
corresponding inspection map. Then, a database having a plurality of
specification data is provided. After that, the inspection map is compared
with each of the specification data so as to find the specification data
coinciding with the inspection map. Finally, the substrate is defined
according to the layout of active areas coinciding with the inspection
map, and then the substrate is classified and stored.
Une méthode pour classifier un substrat fournit d'abord le substrat et sa carte correspondante d'inspection. Puis, une base de données ayant une pluralité de données de spécifications est fournie. Après ce, la carte d'inspection est comparée à chacune des données de spécifications afin de trouver les données de spécifications coïncider avec la carte d'inspection. En conclusion, le substrat est défini selon la disposition des secteurs actifs coïncidant avec la carte d'inspection, et le substrat est classifié et alors stocké.
