A semiconductor integrated-circuit device includes both conventional internal circuitry, and a selection circuit that provides external output of signals from the internal circuitry under control of a selection signal. In a parallel test system, the output terminals of a plurality of devices under test are connected to a single set of tester input terminals, at which response signals are received from each device in turn. Alternatively, each device has an internal test circuit that carries out tests in response to test control codes received from a tester, evaluates the response signals from the internal circuitry, makes a pass/fail decision, and provides the tester with the pass/fail result.

Un dispositivo del circuito integrato a semiconduttore include entrambe i circuiti interni convenzionali e un circuito di selezione che fornisce l'uscita esterna dei segnali dai circuiti interni sotto controllo di un segnale di selezione. In un sistema parallelo della prova, i terminali di uscita di una pluralità di dispositivi sotto la prova sono collegati ad un singolo insieme dei terminali dell'input del tester, a cui i segnali di risposta sono ricevuti da ogni dispositivo a loro volta. Alternativamente, ogni dispositivo ha un circuito interno della prova che effettua le prove in risposta ai codici di controllo della prova ricevuti da un tester, valuta i segnali di risposta dai circuiti interni, prende una decisione di pass/fail e fornisce al tester il risultato di pass/fail.