Identification method for an article using crystal defects

   
   

A semiconductor substrate has a peculiar crystal defect. Crystal defects in a fixed area of a substrate can be treated as data acquired by coding the distribution of the crystal defects. The coded data is utilized for certificate data of an IC card by identifying a semiconductor substrate itself.

Un substrato a semiconduttore ha un difetto di cristallo particolare. I difetti di cristallo in una zona fissa di un substrato possono essere trattare come i dati acquistati codificando la distribuzione dei difetti di cristallo. I dati codificati sono utilizzati per i dati del certificato di una scheda di IC identificando un substrato in se a semiconduttore.

 
Web www.patentalert.com

< Method and apparatus for identifying high metal content on a semiconductor surface

< Means to erase a low voltage programmable and erasable flash EEPROM

> Cleaning composition useful in semiconductor integrated circuit fabrication

> P-n junction-type compound semiconductor light-emitting device, production method thereof, lamp and light source

~ 00118