We disclose a method for analyzing the composition of a microscopic
particle resting on a first sample surface. The method comprises
positioning a micro-manipulator probe near the particle; attaching the
particle to the probe; moving the probe and the attached particle away
from the first sample surface; positioning the particle on a second sample
surface; and, analyzing the composition of the particle on the second
sample surface by energy-dispersive X-ray analysis or detection of Auger
electrons. The second surface has a reduced or non-interfering background
signal during analysis relative to the background signal of the first
surface. We also disclose methods for adjusting the electrostatic forces
and DC potentials between the probe, the particle, and the sample surfaces
to effect removal of the particle, and its transfer and relocation to the
second sample surface.
Αποκαλύπτουμε μια μέθοδο για τη σύνθεση ενός μικροσκοπικού μορίου που στηρίζεται σε μια πρώτη επιφάνεια δειγμάτων. Η μέθοδος περιλαμβάνει τον προσδιορισμό θέσης ενός micro-manipulator ελέγχου κοντά στο μόριο ένωση του μορίου με τον έλεγχο κίνηση του ελέγχου και του συνημμένου μορίου μακρυά από την πρώτη επιφάνεια δειγμάτων προσδιορισμός θέσης του μορίου σε μια δεύτερη επιφάνεια δειγμάτων και, αναλύοντας τη σύνθεση του μορίου στη δεύτερη επιφάνεια δειγμάτων από την ενέργεια-διασποράς των ακτίνων X ανάλυση ή την ανίχνευση των ηλεκτρονίων τρυπανιών. Η δεύτερη επιφάνεια έχει ένα μειωμένο ή σήμα υποβάθρου μη παρεμβολής κατά τη διάρκεια της ανάλυσης σχετικά με το σήμα υποβάθρου της πρώτης επιφάνειας. Αποκαλύπτουμε επίσης τις μεθόδους για τις ηλεκτροστατικές δυνάμεις και τις ΣΥΝΕΧΕΙΣ δυνατότητες μεταξύ του ελέγχου, του μορίου, και των επιφανειών δειγμάτων στην αφαίρεση επίδρασης του μορίου, και τη μεταφορά και τον επανεντοπισμό της στη δεύτερη επιφάνεια δειγμάτων.
