Column redundancy scheme for serially programmable integrated circuits

   
   

A serially programmable integrated circuit (IC) includes a memory array and multiple data registers daisy-chained by bypass logic. Each of the data registers is associated with a primary column grouping or redundant column grouping in the memory array. If a data register is associated with a primary column grouping that includes a defective column, the bypass logic bypasses that data register and incorporates one of the data registers associated with a redundant column grouping into the serial programming path of the IC. Therefore, when a programming bitstream is shifted into this serial programming path, defective columns in the memory array are automatically bypassed during the subsequent programming operation. To read a word from the memory array, any data stored in the redundant columns is first read out, and then the data from the primary columns is read out, bypassing the previously identified defective column groupings.

Een in afleveringen programmeerbare geïntegreerde schakeling (IC) omvat een geheugenserie en veelvoudige gegevensregisters die door omleidingslogica wordt madeliefje-geketend. Elk van de gegevensregisters wordt geassocieerd met een primaire kolom groepering of overtollige kolom groepering in de geheugenserie. Als gegevens worden geassocieerd met een primaire kolom zich groepeert registreren die een gebrekkige kolom omvat, neemt de omleidingen van de omleidingslogica die de gegevens registreren en één van de gegevensregisters verbonden op aan een overtollige kolom groepering in de periodieke programmeringsweg van IC. Daarom wanneer een programmering bitstream in deze periodieke programmeringsweg wordt verplaatst, worden de gebrekkige kolommen in de geheugenserie automatisch gemeden tijdens de verdere programmeringsverrichting. Om een woord van de geheugenserie te lezen, wordt om het even welk gegeven dat in de overtollige kolommen wordt opgeslagen eerst voorgelezen, en dan wordt het gegeven van de primaire kolommen voorgelezen, mijdend de eerder geïdentificeerde gebrekkige kolomgroeperingen.

 
Web www.patentalert.com

< Method for programming a three-dimensional memory array incorporating serial chain diode stack

< Memory device having reduced layout area

> Integrated circuit capable of being burn-in tested using an alternating current stress and a testing method using the same

> Apparatus for discriminating optical disc and method therefor

~ 00142