A structure and associated method to determine an actual resistance value
of a calibration resistor within a semiconductor device. The semiconductor
device comprises a capacitor, a calibration resistor, and a calibration
circuit. A voltage applied to the calibration resistor produces a current
flow through the calibration resistor to charge the capacitor. The
calibration circuit is adapted to measure an actual time required to
charge the capacitor. The calibration circuit is further adapted calculate
an actual resistance value of the calibration resistor based on the actual
time required to charge the capacitor and a capacitance value of the
capacitor.
Een structuur en een bijbehorende methode om een daadwerkelijke weerstandswaarde van een kaliberbepalingsweerstand binnen een halfgeleiderapparaat te bepalen. Het halfgeleiderapparaat bestaat uit een condensator, uit een kaliberbepalingsweerstand, en uit een kaliberbepalingskring. Een voltage dat op de kaliberbepalingsweerstand wordt toegepast veroorzaakt een huidige stroom door de kaliberbepalingsweerstand om de condensator te laden. De kaliberbepalingskring wordt aangepast om een daadwerkelijke tijd te meten die wordt vereist om de condensator te laden. De kaliberbepalingskring wordt verder berekent een daadwerkelijke weerstandswaarde van de kaliberbepalingsweerstand aangepast die op de daadwerkelijke tijd wordt die wordt vereist gebaseerd om de condensator en een capacitieve weerstandswaarde van de condensator te laden.
