A method and apparatus for characterizing and screening an array of
material samples is disclosed. The apparatus includes a sample block
having a plurality of regions for containing the material samples, a
polarized light source to illuminate the materials, an analyzer having a
polarization direction different than the polarization direction of the
polarized light source, and a detector for analyzing changes in the
intensity of the light beams. The light source, together with a polarizer,
may include a plurality of light beams to simultaneously illuminate the
entire array of materials with linearly polarized light so that
characterization and screening can be performed in parallel. In addition,
the materials in the sample block maybe subjected to different
environmental conditions or mechanical stresses, and the detector analyzes
the array as a function of the different environmental conditions or
mechanical stresses.
Une méthode et un appareil pour caractériser et examiner une rangée d'échantillons matériels est révélée. L'appareil inclut un bloc témoin ayant une pluralité de régions pour contenir les échantillons matériels, une source lumineuse polarisée pour illuminer les matériaux, un analyseur ayant une direction de polarisation différente que la direction de polarisation de la source lumineuse polarisée, et un détecteur pour analyser change dans l'intensité des faisceaux lumineux. La source lumineuse, ainsi qu'un polariseur, peut inclure une pluralité de faisceaux lumineux pour illuminer simultanément le choix entier de matériaux avec la lumière linéairement polarisée de sorte que la caractérisation et le criblage puissent être effectués en parallèle. En outre, les matériaux dans l'échantillon bloquent peut-être soumis à différentes conditions environnementales ou à efforts mécaniques, et le détecteur analyse la rangée en fonction des différentes conditions environnementales ou des efforts mécaniques.
