A consolidated junction contact etch in the fabrication of a DRAM integrated circuit device is described. Semiconductor device structures are provided in and on a substrate wherein the substrate is divided into an active area and a periphery area. The semiconductor device structures are covered with an etch stop layer. A dielectric layer is deposited over the etch stop layer. The dielectric layer is concurrently etched through in the active area to form bit line contact openings, in the periphery area to form substrate contact openings, and to form gate contact openings wherein the etching stops at the etch stop layer. The etch stop layer is etched into to a lesser extent through the substrate contact openings and the bit line contact openings than through the gate contact openings. Then, the etch stop layer is etched through using a directional etch selective to the etch stop layer. The bit line contact openings, substrate contact openings, and gate contact openings are filled with a conducting layer to complete formation of contacts in the fabrication of a DRAM integrated circuit device.

Μια παγιωμένη επαφή συνδέσεων χαράζει στην επεξεργασία μιας συσκευής ολοκληρωμένων κυκλωμάτων DRAM περιγράφεται. Οι δομές συσκευών ημιαγωγών παρέχονται σε και σε ένα υπόστρωμα όπου το υπόστρωμα διαιρείται σε ενεργό περιοχή και περιοχή περιφέρειας. Οι δομές συσκευών ημιαγωγών καλύπτονται με χαράζουν το στρώμα στάσεων. Ένα διηλεκτρικό στρώμα κατατίθεται πέρα από χαράζει το στρώμα στάσεων. Το διηλεκτρικό στρώμα χαράζεται ταυτόχρονα κατευθείαν στην ενεργό περιοχή για να διαμορφώσει τις ενάρξεις επαφών γραμμών κομματιών, στην περιοχή περιφέρειας για να διαμορφώσει τις ενάρξεις επαφών υποστρωμάτων, και για να διαμορφώσει τις ενάρξεις επαφών πυλών όπου οι στάσεις χαρακτικής χαράζουν το στρώμα στάσεων. Χαράξτε το στρώμα στάσεων χαράζεται σε μια μικρότερη έκταση μέσω των ενάρξεων επαφών υποστρωμάτων και των ενάρξεων επαφών γραμμών κομματιών απ'ό,τι μέσω των ενάρξεων επαφών πυλών. Κατόπιν, χαράξτε το στρώμα στάσεων χαράζεται μέσω της χρησιμοποίησης έναν κατευθυντικού χαράζει εκλεκτικό χαράζει το στρώμα στάσεων. Τις ενάρξεις επαφών γραμμών κομματιών, οι ενάρξεις επαφών υποστρωμάτων, και οι ενάρξεις επαφών πυλών γεμίζουν με ένα στρώμα διεύθυνσης στον πλήρη σχηματισμό των επαφών στην επεξεργασία μιας συσκευής ολοκληρωμένων κυκλωμάτων DRAM.

 
Web www.patentalert.com

< Magnetic material memory and information reproducing method of the same

< Memory device having wide margin of data reading operation, for storing data by change in electric resistance value

> Magnetoresistive device and magnetic component

> Narrow contact design for magnetic random access memory (MRAM) arrays

~ 00071