A probe contact system for establishing electrical connection with contact
targets. The probe contact system is formed of a main frame, a flexible
printed circuit board (PCB), a contactor carrier and a plurality of
contactors. The flexible PCB has contact pads at a center area thereof and
signal lines connected to the contact pads and extended to an end of the
flexible PCB. The end of the flexible PCB with the signal lines is
connected to a test head of a semiconductor test system. In one aspect,
the contactor has a top spring to resiliently contact with the contact
pads on the flexible PCB. In another aspect, the probe contact system
includes a conductive elastomer sheet between the contactor and the
flexible PCB thereby obviating the top spring of the contactor.
Un système de contact de sonde pour établir le raccordement électrique avec des cibles de contact. Le système de contact de sonde est constitué d'une armature principale, d'une carte électronique flexible (carte), d'un porteur de conjoncteur et d'une pluralité de conjoncteurs. La carte flexible a des garnitures de contact à un secteur central en et aux lignes reliées aux garnitures de contact et prolongées à une extrémité de la carte flexible. L'extrémité de la carte flexible avec les lignes est reliée à une tête d'essai d'un système d'essai de semi-conducteur. Dans un aspect, le conjoncteur a un ressort supérieur à entrer en contact élastiquement avec les garnitures de contact sur la carte flexible. Dans un autre aspect, le système de contact de sonde inclut une feuille conductrice d'élastomère entre le conjoncteur et la carte flexible obviant de ce fait au ressort supérieur du conjoncteur.
